Improving Combinational Circuit Resilience against Soft Errors via Selective Resource Allocation
2017 20TH IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DESIGN AND DIAGNOSTICS OF ELECTRONIC CIRCUIT SYSTEMS (DDECS), Dresden, Almanya, 19 - 21 Nisan 2017, ss.12-15, (Tam Metin Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
- Doi Numarası: 10.1109/ddecs.2017.7934576
- Basıldığı Şehir: Dresden
- Basıldığı Ülke: Almanya
- Sayfa Sayıları: ss.12-15
- Hacettepe Üniversitesi Adresli: Evet