Improving Combinational Circuit Resilience against Soft Errors via Selective Resource Allocation

YARAN T., TOSUN S.

2017 20TH IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DESIGN AND DIAGNOSTICS OF ELECTRONIC CIRCUIT SYSTEMS (DDECS), Dresden, Almanya, 19 - 21 Nisan 2017, ss.12-15 identifier identifier

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Doi Numarası: 10.1109/ddecs.2017.7934576
  • Basıldığı Şehir: Dresden
  • Basıldığı Ülke: Almanya
  • Sayfa Sayıları: ss.12-15
  • Hacettepe Üniversitesi Adresli: Evet