Arş.Gör. MUSTAFA ERYILMAZ
Araştırmacı kurumdan ayrılmıştır
Ana Sayfa
Eğitim Bilgileri
Araştırma Alanları
Akademik İdari Deneyim
Yayınlar & Eserler
Proje & Patent & Tasarım
Bilimsel Faaliyetler
Başarılar & Tanınırlık
Duyurular & Dokümanlar
İletişim
Özgeçmiş Dosyası İndir
Türkçe
English
Hacettepe Üniversitesi
Akademik Veri Yönetim Sistemi
English
Akademik Veri Yönetim Sistemi
English
Yayınlar & Eserler
Yayın Ağı
Hakemli Kongre / Sempozyum Bildiri Kitaplarında Yer Alan Yayınlar
Defect Classification from Electronic Card Images by Deep Learning Elektronik Kart Görüntülerinden Derin Öǧrenme ile Kusur Siniflandirmasi
Eryilmaz M.
,
Cil M.
,
Akturk S.
,
Tilegi M.
,
Tirak H.
,
YILMAZ A.
, et al.
30th Signal Processing and Communications Applications Conference, SIU 2022, Safranbolu, Türkiye, 15 - 18 Mayıs 2022
Metrikler
Daha fazla metrik
Yayın
1