Yayınlar & Eserler

Yayın Ağı
Hakemli Bilimsel Toplantılarda Yayımlanmış Bildiriler 1

1. Defect Classification from Electronic Card Images by Deep Learning Elektronik Kart Görüntülerinden Derin Öǧrenme ile Kusur Siniflandirmasi

Eryilmaz M., Cil M., Akturk S., Tilegi M., Tirak H., YILMAZ A., et al.
30th Signal Processing and Communications Applications Conference, SIU 2022, Safranbolu, Türkiye, 15 - 18 Mayıs 2022, (Tam Metin Bildiri) identifier
Metrikler

Yayın

1

Yayın (Scopus)

1