Gözlenen gruplara ve örtük sınıflara göre belirlenen değişen madde fonksiyonunun karşılaştırılması
Tezin Türü: Doktora
Tezin Yürütüldüğü Kurum: Hacettepe Üniversitesi, Eğitim Bilimleri Enstitüsü, Eğitim Bilimleri A.B.D., Türkiye
Tezin Onay Tarihi: 2015
Tezin Dili: Türkçe
Öğrenci: ŞEYMA UYAR
Asıl Danışman (Eş Danışmanlı Tezler İçin): HÜLYA KELECİOĞLU
Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu
Özet:Değişen Madde Fonksiyonu (DMF) incelenirken genellikle gözlenen değişkenler (cinsiyet vb.) dikkate alınarak referans ve odak gruplar oluşturulur. Bu gruplarda bireylerin maddeye verdiği cevapların benzer fonksiyon gösterdiği kabul edilir. Bir grubun ölçülen yetenek bakımından homojen topluluklardan oluştuğu varsayılır ve ilgili gözlenen grupta maddenin grup içinde DMF göstermesi olasılığı çoğu zaman dikkate alınamaz. Homojenliğin sağlanamaması nedeniyle bireylerin cevap örüntülerine göre oluşturulan örtük sınıflar ile DMF çalışmalarının yapılması söz konusu olmuştur. Bu çalışmada önceden belli gözlenen gruplara dayalı DMF belirleme ile "çok düzeyli karma madde tepki kuramı" (ÇDKMTK) yardımı ile ortaya çıkarılan örtük sınıflara dayalı DMF belirleme bakımından I.Tip hata ve güç oranları incelenmiştir. Bu amaçla örneklem büyüklüğü 5000 olarak belirlenmiştir. Veri, gerçeği yansıtması açısından geniş ölçekli sınavlarda farklı okullardan öğrencilerin sınava alındığı durum dikkate alınarak 100 farklı okul örneklemlerinden 50'şer öğrenci seçilecek şekilde üretilmiştir. Araştırmada bir tane iki kategorili gözlenen grup değişkeni (cinsiyet vb.), bir tane iki kategorili öğrenci düzeyi değişkeni (ekonomik düzey vb.) ve bir tane iki kategorili okul düzeyi değişkeni (okulun konumu vb.) yer almaktadır. DMF'li madde oranı, referans-odak grup oranı, DMF etki büyüklüğü ve gözlenen grup ile örtük sınıfların örtüşme oranı değişen koşullar olarak ele alınmıştır. DMF incelemek üzere gözlenen grup değişkenine ilişkin yöntemlerden klasik test kuramı çerçevesinde Mantel Haenszel (MH) tekniği ve madde tepki kuramı çerçevesinde Lord'un ki-kare tekniğinden yararlanılmıştır. Örtük sınıflar ÇDKMTK modeli ile belirlenmiş, buna ilişkin analizler R programında MplusAutomation kütüphanesi üzerinden 1-PL modele göre yapılmıştır. ÇDKMTK ile yapılan kestirimlerde En Çok Olabilirlik yöntemi kullanılmıştır. Üretilen gözlenen grup değişkeninde bir kategori referans, diğer kategori odak grup olarak belirlenmiştir. MH ve Lord'un ki-kare yöntemleri ile maddelerin referans ve odak grup arasında DMF bakımından incelenmesi için R 3.1.2 programında "difR" kütüphanesi kullanılmıştır. Öğrenci düzeyi örtük sınıfları arasında DMF incelemek üzere sınıf özellikli kestirilen madde parametreleri bir sınıf için referans, diğer sınıf için odak grup olarak ele alınmıştır. Çalışmada örtük sınıflara ait madde parametreleri MH tekniği ile karşılaştırılmıştır. Eğer hata, 0.025 ≤ I.Tip hata oranı ≤0.075 aralığında ise I. tip hatanın iyi kontrol edildiği sonucuna ulaşılmıştır. Güç değerinin 0.80 değerinin üzerinde bulunduğu durumlarda ilgili yöntemin DMF belirleme bakımından yeterli olduğuna karar verilmiştir. Sonuçlar, etki büyüklüğünün yüksek ve DMF içeren madde sayısının fazla olduğu durumda verinin ÇDKMTK modeline daha iyi uyum sergilediğini göstermiştir. DMF etki büyüklüğü 1.0 iken örtüşme oranlarının tamamında ve tüm DMF içeren madde oranı ve referans-odak grup koşullarında ÇDKMTK'nın gücü yüksek, I. tip hata oranı düşük bulunmuştur. Örtüşme oranı %90 iken MH ve Lord'un ki-kare yöntemlerinin gücü ve I. tip hatası tüm koşullarda kabul edilebilir düzeydedir. Örtüşme oranı azaldığında MH ve Lord'un ki-kare yöntemlerinin gücü düşmektedir. Bu nedenle DMF çalışmalarında kullanılacak veriye uygun modele göre örtük sınıf değişkeni ya da gözlenen grup değişkeni ile DMF belirleme yöntemine karar verilmesi önerilmektedir.