Nanoyapılı ince film örneklerin, geçirmeli ve yüzey taramalı X-ışını saçılma yöntemleri (SAXS-GISAXS) ile incelenmesi

Tezin Türü: Yüksek Lisans

Tezin Yürütüldüğü Kurum: Hacettepe Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Mühendisliği A.B.D., Türkiye

Tezin Onay Tarihi: 2017

Öğrenci: BEGÜM ÇINAR BAM

Asıl Danışman (Eş Danışmanlı Tezler İçin): SEMRA İDE