Olasılık oran testine dayalı kontrol kartları

---

Tezin Türü: Yüksek Lisans

Tezin Yürütüldüğü Kurum: Hacettepe Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, İstatistik A.B.D., Türkiye

Tezin Onay Tarihi: 2013

Tezin Dili: Türkçe

Öğrenci: DİLŞAD ERKEK

Asıl Danışman (Eş Danışmanlı Tezler İçin): SEVİL BACANLI

Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu

Özet:

İstatistiksel süreç kontrollerinde kontrol kartları bir üretim sürecinin istatistiksel olarak kontrolde olup olmadığını test etmek veya izlemek için oldukça önemli araçlardır. Ardışık olasılık oran testi ise kalite kontrol uygulamalarında oldukça sık kullanılan ve kalite kontrol çalışmalarında zaman ve para bakımından tasarruf sağlayan bir yöntem olarak bilinmektedir. Ardışık olasılık oran test kontrol kartları Wald?ın önerdiği ardışık olasılık oran testlerine dayanarak geliştirilmiştir. Tez çalışmasında literatürde normal ve binom dağılımı için geliştirilen ardışık olasılık oran kontrol kartları incelenmiş; ortalama (X ?) kontrol kartı ve kusurlu oranı (p) kontrol kartı ile karşılaştırılmıştır. Anahtar Kelimeler: Ardışık Olasılık Oran Testleri, Kontrol Kartları, Karakteristik İşlem Eğrisi, Ortalama Örneklem Sayısı, SPRT