Analyzing the Impact of Voltage Fluctuations on Load Signature Features for NILM Applications

Sahloul M. N., AKARSLAN E., DOĞAN R., ÇINAR S. M.

5th International Conference on Trends in Advanced Research, Konya, Türkiye, 16 Ekim 2025, ss.347-353, (Tam Metin Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Konya
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.347-353
  • Hacettepe Üniversitesi Adresli: Evet