Hidrojenlendirilmiş Amorf ve Nano Kristal Silisyum a Si H ve nc Si H Tabanlı İnce Filmlerde Fourier Dönüşümlü Fotoiletkenlik Spektroskopisi FTPS Ölçümleri
22. Yoğun Madde Fiziği, Türkiye, 16 Aralık 2016, (Özet Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
- Basıldığı Ülke: Türkiye
- Hacettepe Üniversitesi Adresli: Evet