Grazing Incidence Small Angle X- ray Scattering (GISAXS) Analysis onNanostructured Thin Films Synthesized for Optoelectronic Applications
Turcmos2017, Bodrum, Türkiye, 26 - 29 Ağustos 2017, (Özet Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
- Basıldığı Şehir: Bodrum
- Basıldığı Ülke: Türkiye
- Hacettepe Üniversitesi Adresli: Evet