Robust X control chart for monitoring the skewed and contaminated process

KARAGÖZ D.

Hacettepe Journal of Mathematics and Statistics, cilt.47, sa.1, ss.223-242, 2018 (SCI-Expanded, Scopus, TRDizin)

• Yayın Türü: Makale / Tam Makale
• Cilt numarası: 47 Sayı: 1
• Basım Tarihi: 2018
• Doi Numarası: 10.15672/hjms.201611815892
• Dergi Adı: Hacettepe Journal of Mathematics and Statistics
• Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus, TR DİZİN (ULAKBİM)
• Sayfa Sayıları: ss.223-242
• Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu
• Hacettepe Üniversitesi Adresli: Evet