Surface Characterization of MBE Grown CdTe Layers over GaAs 211 B by Spectroscopic Ellipsometry

---

KARAKAYA M., Bilgilisoy E., ARI O., SELAMET Y.

THE U.S. Workshop on the Physics and Chemistry of II-VI Materials 2015, Chicago, Amerika Birleşik Devletleri, 5 - 08 Ekim 2015, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Basıldığı Şehir: Chicago
• Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
• Hacettepe Üniversitesi Adresli: Hayır