Hidrojenlendirilmiş Amorf ve Nano Kristal Silisyum a Si H ve nc Si H Tabanlı İnce Filmlerde Fourier Dönüşümlü Fotoiletkenlik Spektroskopisi FTPS Ölçümleri

BACIOĞLU A.

22. Yoğun Madde Fiziği, Türkiye, 16 Aralık 2016

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Hacettepe Üniversitesi Adresli: Evet