Robust X control chart for monitoring the skewed and contaminated process

Creative Commons License

KARAGÖZ D.

Hacettepe Journal of Mathematics and Statistics, cilt.47, sa.1, ss.223-242, 2018 (SCI-Expanded) identifier identifier

  • Yayın Türü: Makale / Tam Makale
  • Cilt numarası: 47 Sayı: 1
  • Basım Tarihi: 2018
  • Doi Numarası: 10.15672/hjms.201611815892
  • Dergi Adı: Hacettepe Journal of Mathematics and Statistics
  • Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus, TR DİZİN (ULAKBİM)
  • Sayfa Sayıları: ss.223-242
  • Hacettepe Üniversitesi Adresli: Evet