Citation Formats
YAPISAL EŞİTLİK MODELLEMESİNDE PARAMETRELERİN KLASİK TEST KURAMI VE MADDE TEPKİ KURAMINA GÖRE SINIRLANDIRILMASININ UYUM İNDEKSLERİNE ETKİSİ
  • IEEE
  • ACM
  • APA
  • Chicago
  • MLA
  • Harvard
  • BibTeX

A. SAYIN And S. GELBAL, "YAPISAL EŞİTLİK MODELLEMESİNDE PARAMETRELERİN KLASİK TEST KURAMI VE MADDE TEPKİ KURAMINA GÖRE SINIRLANDIRILMASININ UYUM İNDEKSLERİNE ETKİSİ," International Journal of Education Science and Technology , vol.2, no.2, pp.57-71, 2016

SAYIN, A. And GELBAL, S. 2016. YAPISAL EŞİTLİK MODELLEMESİNDE PARAMETRELERİN KLASİK TEST KURAMI VE MADDE TEPKİ KURAMINA GÖRE SINIRLANDIRILMASININ UYUM İNDEKSLERİNE ETKİSİ. International Journal of Education Science and Technology , vol.2, no.2 , 57-71.

SAYIN, A., & GELBAL, S., (2016). YAPISAL EŞİTLİK MODELLEMESİNDE PARAMETRELERİN KLASİK TEST KURAMI VE MADDE TEPKİ KURAMINA GÖRE SINIRLANDIRILMASININ UYUM İNDEKSLERİNE ETKİSİ. International Journal of Education Science and Technology , vol.2, no.2, 57-71.

SAYIN, AYFER, And SELAHATTİN GELBAL. "YAPISAL EŞİTLİK MODELLEMESİNDE PARAMETRELERİN KLASİK TEST KURAMI VE MADDE TEPKİ KURAMINA GÖRE SINIRLANDIRILMASININ UYUM İNDEKSLERİNE ETKİSİ," International Journal of Education Science and Technology , vol.2, no.2, 57-71, 2016

SAYIN, AYFER And GELBAL, SELAHATTİN. "YAPISAL EŞİTLİK MODELLEMESİNDE PARAMETRELERİN KLASİK TEST KURAMI VE MADDE TEPKİ KURAMINA GÖRE SINIRLANDIRILMASININ UYUM İNDEKSLERİNE ETKİSİ." International Journal of Education Science and Technology , vol.2, no.2, pp.57-71, 2016

SAYIN, A. And GELBAL, S. (2016) . "YAPISAL EŞİTLİK MODELLEMESİNDE PARAMETRELERİN KLASİK TEST KURAMI VE MADDE TEPKİ KURAMINA GÖRE SINIRLANDIRILMASININ UYUM İNDEKSLERİNE ETKİSİ." International Journal of Education Science and Technology , vol.2, no.2, pp.57-71.

@article{article, author={AYFER SAYIN And author={SELAHATTİN GELBAL}, title={YAPISAL EŞİTLİK MODELLEMESİNDE PARAMETRELERİN KLASİK TEST KURAMI VE MADDE TEPKİ KURAMINA GÖRE SINIRLANDIRILMASININ UYUM İNDEKSLERİNE ETKİSİ}, journal={International Journal of Education Science and Technology}, year=2016, pages={57-71} }