Hakemli Bilimsel Toplantılarda Yayımlanmış Bildiriler

2022

2022

1. Defect Classification from Electronic Card Images by Deep Learning Elektronik Kart Görüntülerinden Derin Öǧrenme ile Kusur Siniflandirmasi

Eryilmaz M., Cil M., Akturk S., Tilegi M., Tirak H., YILMAZ A., et al.

30th Signal Processing and Communications Applications Conference, SIU 2022, Safranbolu, Türkiye, 15 - 18 Mayıs 2022, (Tam Metin Bildiri)